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产品名称:近场暗室测试系统

产品型号:

概述:

由于天线测量要满足远场条件 R ≥ 2D?/λ。因此对大口径天线、阵列天线的测量暗室的尺寸要求很大,由于暗室尺寸不可能很大,所以对大口径天线、阵列天线测量目前在室内都选择近场法测试天线的辐射特性。近场暗室主要包括平面近场暗室、柱面近场暗室、球面近场暗室:

平面近场暗室主要适用于高增益、笔形波束天线的测量。

柱面近场暗室主要适用于中等增益、扇形波束天线的测量。

球面近场暗室主要适用于低增益、宽波束天线的测量。

关键技术:

测试场总体设计。

屏蔽子系统。

吸波材料子系统。

测试仪器设备及测试软件系统。

扫描架及转台运动控制系统。

控制室、仪器室等辅助设施等。

测试系统使用培训。

售后服务。